高頻低阻電解電容的故障問(wèn)題與注意事項(xiàng)

時(shí)間：2018-05-04作者：深圳市新晨陽(yáng)電子有限公司瀏覽：53

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 壓敏電阻一般并聯(lián)使用

  壓敏電阻一般并聯(lián)在電路中使用，當(dāng)電阻兩端的電壓發(fā)生急劇變化時(shí)，電阻短路將電流保險(xiǎn)絲熔斷，起到保護(hù)作用。 壓敏電阻在電路中，常用于電源過(guò)壓保護(hù)和穩(wěn)壓。 當(dāng)一個(gè)壓敏電阻滿(mǎn)足不了標(biāo)稱(chēng)放電電流的要求時(shí)，應(yīng)采用多個(gè)壓敏電阻并聯(lián)使用。 有時(shí)為了降低限制電壓，即使標(biāo)稱(chēng)放電電流滿(mǎn)足要求也采用多個(gè)壓敏電阻并聯(lián)。 要特別注意的是，壓敏電阻并聯(lián)使用時(shí)，一定要嚴(yán)格挑選參數(shù)一致的進(jìn)行配對(duì)，以保證電流的均勻分配 注意事項(xiàng)溫

• 薄膜電阻和厚膜電阻有什么差異？

  類(lèi)似半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)或者薄膜物理這種任意面積遠(yuǎn)大于厚度的情形中，貼片RB薄膜有著廣泛的應(yīng)用。晶片上常用堆積有納米級(jí)厚度的薄膜，如果要注意這些薄膜的電阻阻值，就需要使用到薄膜RB電阻這一概念了比方，發(fā)光二級(jí)體的制造中，二較體PN結(jié)上作為電極而沉積的金屬的阻值很大程度影響了發(fā)光二較體的發(fā)光效率，所以需要將金屬半導(dǎo)體的接觸電阻小化，利用傳輸線模型丈量法以及四腳探針丈量法，就能夠確定金屬下方半導(dǎo)體層的薄膜電阻

• 關(guān)于鋁電解電容的研究方向

  目前可提供全世界一半的MLCC，MLCC鋁電解電容總產(chǎn)量的80%，過(guò)去兩、三年的年增長(zhǎng)率達(dá)到30%以上。2008年的產(chǎn)量在2007年基礎(chǔ)上增加了32.2%，2009年的產(chǎn)量將小幅減少，但仍將突破萬(wàn)億大關(guān)。 提供**近1/3的無(wú)源元件，其中電容器占30%，穩(wěn)居世界鋁電解電容供應(yīng)市場(chǎng)的地位。中國(guó)電子元器件行業(yè)協(xié)會(huì)（CENA）的相關(guān)數(shù)據(jù)顯示，中國(guó)2008年的電容器銷(xiāo)售總額達(dá)67億美元，在2007年的基

• 壓敏電阻的失效及劣化

  壓敏電阻過(guò)電壓在電路系統(tǒng)中頻繁顯現(xiàn),則壓敏電阻就會(huì)頻繁行徑以抑制過(guò)電壓幅值和吸收釋放電涌能量,這勢(shì)必會(huì)招致壓敏電阻器的機(jī)能劣化。 按照壓敏電阻器失效后的表現(xiàn)情況來(lái)看，可以分成三種常見(jiàn)的失效狀態(tài)：炸裂壓敏電阻器在抑制過(guò)電壓時(shí)將會(huì)發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象，非常明顯。 穿孔電阻器的陶瓷外層將會(huì)瞬間發(fā)生擊穿，出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。 劣化實(shí)物表現(xiàn)為使用萬(wàn)用表測(cè)試壓敏電阻時(shí)出現(xiàn)漏電流增大情況，壓敏電壓顯著下降，直至為零。